AES-8000 AC/DC 아크 방출 분광계
일반적인 애플리케이션
1. 지질 샘플에서 Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu 및 기타 원소의 동시 측정;또한 지질 샘플에서 미량의 귀금속 원소를 검출하는 데 사용할 수 있습니다(분리 및 농축 후).
2. 고순도 금속 및 고순도 산화물, 텅스텐, 몰리브덴, 코발트, 니켈, 텔루르, 비스무트, 인듐, 탄탈륨, 니오븀 등의 분말 시료에서 수~수십종의 불순물 원소 정량;
3. 세라믹, 유리, 석탄재 등 불용성 분말 시료의 미량 및 미량 원소 분석
지구화학적 탐사 시료 분석에 없어서는 안 될 지원 분석 프로그램 중 하나
고순도 물질의 불순물 성분 검출에 이상적
특징
효율적인 광학 이미징 시스템
Ebert-Fastic 광학 시스템과 3개의 렌즈 광학 경로를 채택하여 미광을 효과적으로 제거하고, 후광 및 색수차를 제거하고, 배경을 줄이고, 집광 능력을 향상하고, 우수한 해상도, 균일한 스펙트럼 라인 품질을 제공하고, 하나의 광학 경로를 완전히 상속합니다. -미터 격자 분광기 장점.
- 조밀한 광학 구조 및 고감도;
- 좋은 이미지 품질, 직선 초점면;
- 반전선 분산 속도 0.64nm/mm;
- 이론적 스펙트럼 분해능은 0.003nm(300nm)입니다.
고성능 선형 어레이 CMOS 센서 및 고속 획득 시스템
- UV에 민감한 CMOS 센서를 사용하여 고감도, 넓은 동적 범위, 작은 온도 드리프트;코팅 불필요, 장치 스펙트럼 확장 효과 없음, 필름 노화 문제 없음.
- FPGA 기술을 기반으로 한 고속 다중 CMOS 동기 획득 및 데이터 처리 시스템은 분석 요소 스펙트럼 라인의 자동 측정을 완료할 뿐만 아니라 동기 스펙트럼 라인의 자동 보정 및 자동 배경 감산 기능을 실현합니다.
AC 및 DC 아크 여기 광원
AC 아크와 DC 아크 사이를 전환하는 것이 편리합니다.테스트할 다양한 샘플에 따라 적절한 여기 모드를 선택하면 분석 및 테스트 결과를 개선하는 데 도움이 됩니다.비전도성 샘플의 경우 AC 모드를 선택하고 전도성 샘플의 경우 DC 모드를 선택합니다.
전극 자동 정렬
상하전극은 소프트웨어 파라미터 설정에 따라 자동으로 지정된 위치로 이동하고 여기가 완료된 후 전극을 제거하고 교체하면 조작이 간편하고 정렬 정확도가 높습니다.
편리한 보기 창
특허받은 전극 이미징 프로젝션 기술은 모든 여기 과정을 기기 앞의 관찰 창에 표시하여 사용자가 여기 챔버에서 시료의 여기를 관찰하는 데 편리하며 시료의 특성 및 여기 거동을 이해하는 데 도움이 됩니다. .
강력한 분석 소프트웨어
- 기기 드리프트의 영향을 제거하기 위한 스펙트럼 라인의 실시간 자동 보정
- 인적 요소의 간섭을 줄이기 위해 배경이 자동으로 제거됩니다.
- 스펙트럼 라인 분리 알고리즘을 통해 스펙트럼 간섭의 영향을 줄입니다.
- 감지 내용의 범위를 넓히기 위해 다중 스펙트럼 결정의 자동 전환;
- 두 가지 피팅 방법의 조합은 샘플 분석의 정확도를 향상시킵니다.
- 풍부한 스펙트럼 라인 정보, 분석 응용 분야 확대
- 다양한 샘플 테스트 요구 사항에 적합한 특수 분석 소프트웨어.
- 편리한 데이터 후처리 기능은 실험 프로세스를 단축하고 데이터 처리를 보다 유연하게 만듭니다.
안전 보호
- 전극 클립의 냉각 순환 수류 모니터링은 전극 클립의 고온 연소를 피할 수 있습니다.
- 작업자의 안전을 보호하기 위해 챔버 도어의 안전 연동을 활성화하십시오.
매개변수
| 광학 경로 형태 | 수직 대칭 Ebert-Fastic 유형 | 현재 범위 | 2~20A(교류) 2~15A(직류) |
| 평면 격자선 | 2400개/mm | 여기 광원 | AC/DC 아크 |
| 광학 경로 초점 거리 | 600mm | 무게 | 약 180Kg |
| 이론적 스펙트럼 | 0.003nm(300nm) | 치수(mm) | 1500(L)×820(W)×650(H) |
| 해결 | 0.64nm/mm(일급) | 분광실의 일정한 온도 | 350℃±0.10℃ |
| 떨어지는 라인 분산 비율 | 고성능 CMOS 센서를 위한 FPGA 기술 기반 동기식 고속 획득 시스템 | 환경 조건 | 상온 15OC~30OC 상대 습도<80% |